Análise de jitter avançada com osciloscópios da Rohde & Schwarz
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A decomposição de jitter é exigida pelos padrões digitais e é de grande importância para a solução de problemas ao identificar a causa do jitter. Neste webinar, introduzimos uma nova abordagem para alcançar resultados consistentes com a decomposição de jitter e a estimativa da taxa de erro de bit (BER). Com referência a uma decomposição detalhada em componentes, você aprenderá um novo método baseado em modelo de sinal que leva em consideração todas as informações de sinal, fornece uma análise profunda e está comprometido com uma rigorosa correlação de resultados.
Dr. Mathias Hellwig develops, verifies and supports test and measurement solutions for time-domain applications at Rohde & Schwarz. His focus is on testing digital designs. He achieved deep technical expertise in theory and practice when finishing his PhD in ADC design at the Ruhr-University Bochum and while working on system architectures in various roles before joining Rohde & Schwarz in 2012.
Guido Schulze has more than 20 years of experience in high-speed digital testing. For the last ten years, he has worked as a product manager for the oscilloscope product division at Rohde & Schwarz. He specializes in high-end models and their respective applications.