background

PCI Express Gen 3 — испытания на соответствие и испытания в рамках отладки

PCI Express Gen 3 - compliance and debug testing

Вебинар предназначен для инженеров, занимающихся разработкой и испытаниями высокоскоростных цифровых схем. Первоочередное внимание будет уделено интерфейсам PCIe Gen 3. После обзора технологии PCIe будут рассмотрены следующие темы: аттестационные испытания PCIe, запуск и декодирование протоколов, отладка в целях обеспечения целостности сигнала.

Вебинар начнется с проверки функциональной совместимости системы. Вы подробно узнаете о декодировании, последовательном запуске, испытаниях с помощью глазковой диаграммы, компенсации цепей, управлении импедансом и анализе джиттера, что поможет вам в выявлении основных причин неудачных результатов испытаний. На практических примерах будет продемонстрировано, как можно просто и надежно проводить испытания PCIe.

Jithu Abraham works for Rohde & Schwarz as a product manager for the UK, Ireland and the Benelux region, specializing in oscilloscopes. He enjoys all aspects of high-speed digital, wireless communication, efficient power conversion and all the challenges they bring. Jithu holds an engineering degree in electronics and communication from the Anna University in India and a master’s degree in RF systems from the University of Southampton. He has been working for Rohde & Schwarz for over 12 years.

Jithu Abraham