Оптроны должны проходить испытания на соответствие указанным значениям параметров с использованием функциональных, а также внутрисхемных испытаний.
Основная характеристика оптрона — разделение входа и выхода по постоянному току. Поэтому определение коэффициента передачи тока (CRT) имеет большое значение. Коэффициент связи устройства ухудшается из-за старения полупроводника и помутнения стекловолокна в результате старения, что подвергает коммутационные функции риску потери работоспособности. Измерение коэффициента связи полезно, например, если входная мощность, подаваемая на оптрон, находится на низком уровне или на входе требуется сильный ток возбуждения. Также важны временные характеристики оптрона, особенно в тех точках, в которых испытуемое устройство электрически изолировано от цифровых линий шины. Различия в задержке между отдельными оптронами могут приводить к неправильной интерпретации сигналов на шине и вследствие этого ошибочному ответу от испытуемого устройства.
Комбинированные испытания — метод расширенных испытаний оптронов
Контрольно-измерительное решение
Открытая испытательная платформа CompactTSVP обеспечивает идеальное решение. Платформа CompactTSVP на базе промышленных стандартов может быть расширена модулями измерения, входного воздействия и коммутации от компании Rohde & Schwarz или другими стандартными модулями в зависимости от задачи.
Для определения коэффициента связи требуются модуль генератора сигналов произвольной формы TS-PFG и модуль генерации и измерения аналоговых сигналов TS-PSAM. Коммутационная характеристика оптрона может быть определена посредством параллельной записи и анализа его управляющих и коммутационных сигналов с использованием цифрового осциллографа CompactPCI/PXI.
Расширение усовершенствованной универсальной библиотеки программного обеспечения испытаний (EGTSL) по мере необходимости позволяет проводить испытания большинства коммерчески доступных оптронов. С помощью ПО максимально удобно выполнять испытательные параметризацию и отладку, обеспечивая высокую скорость проведения испытаний.
Применение
Первый этап заключается в определении того, установлен ли оптрон или нет. В простейшем случае это делается посредством измерения диода на входной стороне и резистора на выходной стороне с высоким и низким значениями сопротивления. Для получения подробной информации по функциональным возможностям оптрона должны быть выполнены указанные ниже дополнительные этапы анализа. Измерительные приборы и источники подключаются к испытуемому устройству посредством модуля коммутационной матрицы TS-PMB. Один из двух незаземленных каналов модуля генератора сигналов произвольной формы TS-PFG используется в качестве источника напряжения для управления оптроном, тогда как другой канал используется для имитации нагрузки, подключенной к его выходу. Для определения коэффициента связи k или коэффициента передачи тока модуль аналогового источника и измерения TS‑PSAM измеряет токи на первичной и вторичной сторонах. Отношение выходного тока ко входному составляет коэффициент связи.
Все значения параметров для этого метода проведения испытаний вводятся на удобном в работе экране и проверяются программным обеспечением на достоверность.
Сопутствующие товары
