Oscilloscope Days 2022

Osciloscopios y métodos de sondeo: Fundamentos: mejores prácticas para la elección del osciloscopio y sondas en el trabajo diario (Part 1)

• ¿Qué bloques incluye físicamente un osciloscopio?
• ¿De qué forma afectan parámetros como la frecuencia de muestreo, el número efectivo de bits (ENOB), la profundidad de memoria, la escala vertical y el ruido a la señal visualizada?

Osciloscopios y métodos de sondeo: Fundamentos: mejores prácticas para la elección del osciloscopio y sondas en el trabajo diario (Part 2)

• ¿Cómo influye mi sonda en la señal, y por qué?
• ¿Cómo debería seleccionar el osciloscopio y la sonda adecuados para una aplicación concreta?

¿Qué efectos de RF deben tenerse en cuenta para medir y diseñar sistemas de potencia basados en semiconductores con amplia brecha de bandas? (Part 1)

• ¿Cómo optimizar el sistema de medida, incl. el sondeo para determinar el comportamiento de conmutación?
• ¿Cómo reducir el tiempo invertido y los errores mediante automatización de procesos?

¿Qué efectos de RF deben tenerse en cuenta para medir y diseñar sistemas de potencia basados en semiconductores con amplia brecha de bandas? (Part 2)

• ¿Cómo estabilizar la alimentación de puertas para GaN y SiC?
• ¿Cómo filtrar una fuente de alimentación basada en GaN?

¿Qué puede aportar la separación de jitter? (Part 1)

¿En qué medida se ve afectada la integridad de señal por elementos de filtro como choques de modo común, integridad del suministro de corriente y desequilibrios en el diseño del módulo?

¿Qué puede hacer la separacion del Jitter por Ud.? (Part 2)

• ¿Qué es el jitter?
• ¿Por qué la separación de jitter y ruido adquiere mayor importancia en los diseños electrónicos actuales?
• ¿Qué provoca el jitter?
• ¿Qué información me aporta la «separación de jitter basada en modelo de señal»?
• ¿En qué medida se ve afectada la integridad de señal por elementos de filtro como choques de modo común, integridad del suministro de corriente y desequilibrios en el diseño del módulo?

Encontrando fallos en EMC: ¿Por qué el osciloscopio es una buena opción? (Part 1)

• ¿Por qué y cuándo debe utilizarse un receptor EMI, un analizador de espectro o un osciloscopio?
• ¿Cómo puedo validar mi diseño de filtro EMI con el objeto examinado?
• ¿Qué significa diseño de filtro en modo común y en modo diferencial?
• ¿Cómo puedo identificar los «puntos críticos» y las causas raíz de problemas de EMI en mi diseño?

Localización de errores de compatibilidad electromagnética: ¿por qué es un osciloscopio una buena opción? (Part 2)

• ¿Cómo puedo validar mi diseño de filtro EMI con el objeto examinado?
• ¿Qué significa diseño de filtro en modo común y en modo diferencial?
• ¿Cómo puedo identificar los «puntos críticos» y las causas raíz de problemas de EMI en mi diseño?