LTE / LTE-Advanced

Test su terminali LTE in condizioni di fading con R&S®CMW500 e R&S®AMU200A

In questa nota applicativa viene mostrato come eseguire il test del block error rate (BLER) e del throughput su terminali LTE in condizioni di fading con il tester di protocollo R&S®CMW500 e il simulatore di fading R&S®AMU200A.

Name
Type
Version
Date
Size
LTE Terminal Tests under Fading Conditions with R&S®CMW500 and R&S®AMU200A | 1MA177
Type
Nota di applicazione
Version
4e
Date
Jun 06, 2011
Size
1 MB
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