Application Notes

2ポート残留雑音測定

電子式テスト機器、通信システム、およびレーダーシステムにおいて、位相雑音はますます重要なシステムにおける仕様になっています。位相雑音は、発振器から発生する雑音だけでなく、信号処理チェーンの各コンポーネントで発生する雑音を定量化するためにも重要です。このアプリケーションノートでは、残留雑音または相加性雑音の基礎を復習し、アンプ、ミキサー、ブロック周波数コンバーター、逓倍器、ディバイダー、周波数シンセサイザなどの2ポートデバイスによって付加される振幅(AM)および位相雑音を特定する測定手法を説明します。
さらに、ローデ・シュワルツのFSWP 位相雑音アナライザを紹介し、上記のデバイスに対応できる残留雑音測定手法について解説します。

Name
Type
Version
Date
Size
2-Port Residual Noise Measurements | 1EF100
Type
アプリケーション・ノート
Version
2e
Date
Oct 20, 2017
Size
2 MB