検索
一般検索を使用して、製品、ソリューション、ダウンロードに関連する情報をすばやく検索できます。キーワードを入力し、カテゴリを選択し、アクティブなサブカテゴリから選択して、必要な情報を入手できます。
検索
一般検索を使用して、製品、ソリューション、ダウンロードに関連する情報をすばやく検索できます。キーワードを入力し、カテゴリを選択し、アクティブなサブカテゴリから選択して、必要な情報を入手できます。
10 結果
K135 enables PAM-N Analysis for teh RTO and RTP Oscilloscopes.
Mar 26, 2024 | Press Release | Test & measurement
embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systemsRohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.
ローデ・シュワルツの新しい手法では、設定可能なハードウェアCDRによって、信号の真の「ライブアイ」表示を実現しながら、同時にハードウェアCDRからのビットスライシングに関するタイミング情報を利用できます。これにより、高い統計的信頼度を短時間で得られるだけでなく、より詳細な解析が可能になります。
ローデ・シュワルツが開催するウェビナーで、弊社のオシロスコープとソリューションに関する詳細をご覧ください。
A wide range of Signal Integrity solutions from Rohde & Schwarz ► Get more information!
This webinar is intended for engineers working on high-speed digital interface designs and testing.
このウェビナーでは、ローデ・シュワルツのソリューションによるジッタ分離について詳細に説明します。
Mar 01, 2023 | Press Release | Test & measurement
Embedded world 2023: Rohde & Schwarz showcases its state-of-the-art test solutions for embedded systemsEmbedded systems are at the core of today’s electronic devices, whether in consumer electronics, telecommunications, industrial, medical, automotive or aerospace applications. Flawless operation is crucial, and engineers face complex challenges when designing ever more compact embedded systems which meet today’s demands of efficiency, safety, reliability and interoperability. Rohde & Schwarz addresses these challenges with its wide-ranging test and measurement solutions showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nuremberg.