R&S®FSW-K50을 이용한 스퓨리어스 측정을 위한 고급 기법

스펙트럼 분석기를 이용한 스퓨리어스 방사 검출은 RF 및 Microwave 기기의 설계, 검증, 생산에서 가장 까다로운 측정 중 하나입니다. 특히 항공우주 및 방위 산업 부문의 RF 설계자는 매우 약한 간섭 신호까지 검출해야 합니다. 낮은 노이즈 플로어로 측정하기 위해서는 매우 좁은 분해능 대역폭이 필요하므로 측정 시간이 증가하게 됩니다. 매우 빠른 스펙트럼 분석기를 사용할 경우에도 불요 신호 검출은 몇시간부터 며칠까지 소요될 수 있습니다.

이 문서에서는 스퓨리어스 측정의 기초에 대해 살펴보고 사용한 파라미터가 검출 성능에 어떤 영향을 미치는가에 대해 알아봅니다. R&S®FSW-K50 Spurious Measurement Application에는 새로운 기법이 적용되어 스퓨리어스를 더욱 빠르게 검출하고 구성을 더욱 간단히 할 수 있습니다.