질문
EMC32에서 안테나 변경에 대한 둘 이상의 하위 대역으로 방사 측정을 하고 싶습니다. 테스트에서 수평 및 수직 결과 각각에 대한 그래픽을 자동으로 생성해야 합니다.
각 하위 대역을 한 가지 분극(polarization)으로만 측정하려고 합니다. EMC32에서 이 작업이 가능한가요?
EMC32-EB를 사용하여 수평 및 수직 결과에 대한 별도 그래픽을 생성하는 방법
답변
이 작업을 수행하려면 우선 해당 Hardware Setup을 정의해야 합니다. 새 Hardware Setup을 생성할 경우 첫 번째 주파수 탭이 기본적으로 생성됩니다. Device List에 Hardware Setup에서 사용할 특정 유형의 기기가 하나만 포함된 경우 해당 기기가 자동으로 선택됩니다. "Add Subrange" 버튼을 클릭하여 새 탭(및 새 주파수 대역)을 추가할 수 있습니다. 현재 탭의 주파수 대역은 Modify Freqs 버튼을 클릭하여 수정할 수 있습니다. 주파수 대역은 연속적이어야 하며 주파수 갭은 허용되지 않습니다. 기기 목록에 사용할 특정 유형의 기기가 둘 이상 포함된 경우(사용자의 경우 Device List에 둘 이상의 Antenna가 있어야 함) Hardware Setup 구조의 해당 아이콘을 간단히 클릭하여 각 하위 대역에 대한 해당 기기를 변경할 수 있습니다.
Hardware Setup 파일을 저장하면 EMI Test Template에 대해 사용할 수 있습니다. 소프트웨어는 필요한 주파수 대역에서 Receiver 설정에 대한 정보가 필요하므로 Test를 실행하려면 이 항목을 정의해야 합니다. 이러한 설정은 일반적으로 EUT를 테스트할 표준에 따라 달라집니다.
Test를 실시하면서 수평/수직 분극 각각에 대한 그래픽을 표시하려는 경우 Test Template의 Graphics 탭에서 해당 확인란을 선택하여 이 기능을 활성화해야 합니다. 이 기능을 활성화하는 경우 측정 알고리즘은 수평 및 수직 결과 각각에 대한 그래픽을 자동으로 생성합니다. 스캔/스윕이 완료되면 측정 트레이스가 현재 안테나 분극에 해당하는 그래픽에 자동으로 병합됩니다.
이 옵션은 EMI Scan에서만 사용할 수 있으며, EMI Auto Test와 EMC32-K10 옵션을 실행할 때 평가되지 않습니다.
또한 각 하위 대역이 시작될 때 Test Template에 "Notify User"라는 Action을 추가해야 합니다. 이 Action을 적용하면 선택한 이벤트가 발생하는 즉시 사용자가 정의한 메시지가 사용자에게 표시됩니다. 사용자가 이 창을 닫을 때까지 테스트 실행이 중지됩니다. 그러면 특정 하위 대역이 시작될 때 분극(polarization)을 상호 교체할 수 있습니다.
이 다음에는 이전에 정의한 Test Template을 기준으로 새 EMI Test를 시작할 수 있습니다. "New Test"에서는 측정 모드가 활성화되고 측정 시작에 대한 제어 요소가 자동으로 표시됩니다.
이제 Interactive Device Control을 사용하여 분극을 원하는 위치로 변경하고 Test Control Toolbar에서 Test를 시작해 첫 번째 하위 대역의 스캔/스윕을 계속할 수 있습니다.
다음 하위 대역이 시작되면 사용자 정의 메시지 중 하나가 표시되면서 테스트가 정지합니다.
다음 하위 대역의 분극을 변경하려는 경우 테스트를 중지하고 Interactive Device Control에 액세스할 수 있습니다. 안테나 교체가 완료되는 즉시 다음 하위 대역의 끝에 도달할 때까지 스캔/스윕을 진행할 수 있습니다. 테스트 끝까지 같은 절차를 계속하십시오. 테스트가 끝나면 EMC32에 해당 하위 대역에 지정한 모든 테스트 결과가 표시된 "Electric Field Strenght – Horizontal"(전계 강도 – 수평) 및 "Electric Field Stenght – Vertical"(전계 강도 – 수직) 그래픽이 표시됩니다.
