최근 몇 년간 mmWave 및 Sub-THz 주파수에서 작동하는 기기가 급증했습니다. 이러한 기기는 자동차, 레이더, 전파 천문학, 원격 탐사, 군사 등 다양한 산업에 활용되고 있습니다.

S 파라미터 측정은 언제나 이러한 기기의 특성을 분석하는 방법으로 인정되어 왔습니다. 선형 주파수 변환 및 비주파수 변환 애플리케이션에서 이러한 DUT를 특성분석하는 데 VNA를 사용하는 방식에 대해 살펴봅니다.

비선형 영역에서 운용되는 기기가 증가하면서, 표준 S-파라미터 측정만으로는 완전한 기기 특성분석에 충분하지 않기 때문에 새로운 기법을 사용해야 합니다.

이 웹세미나에서는 사용자 지정 전력 레벨에서 S 파라미터를 측정하는 기법에 대해 알아보고, 정확하고 반복 가능한 게인 압축 측정을 수행하는 방법, 큰 신호 조건에서 DUT에 대한 비-50 옴의 Active load pull 측정 방식으로 비선형 기기 모델을 검증하는 방법, DUT 성능 극대화를 위해 최적의 매칭 네트워크를 생성하는 방법에 대해 살펴봅니다.