Verificación y sustitución del reloj

Verificación y sustitución del reloj

Verificación de las prestaciones de jitter y ruido de fase

La velocidad de los convertidores analógico-digital y digital-analógico (ADC/DAC) ha mejorado espectacularmente en la última década. Se pueden encontrar frecuencias de muestreo de 10 Gmuestras/s con una resolución de 16 bits. Estos dispositivos permiten el procesamiento de vídeo a alta velocidad y hasta aplicaciones de radio definida por software (SDR), donde la digitalización se ejecuta a frecuencias de RF cada vez más altas. Ello dificulta claramente la generación de reloj y su comprobación, en particular al jitter y ruido de fase.

Soluciones para la verificación y sustitución del reloj

Cuando se necesita una fuente de reloj perfecta

Cuando se necesita una fuente de reloj perfecta

Los actuales diseños digitales y convertidores de datos de alta velocidad exigen relojes de máxima pureza con un mínimo jitter.

Más información

Comparación de las mediciones de jitter en el dominio frecuencial y temporal

Comparación de las mediciones de jitter en el dominio frecuencial y temporal

Use mediciones de jitter en los dominios temporal y frecuencial para distinguir entre los artefactos de movimiento rápido y lento.

Más información

Verificación de fuentes de reloj

Verificación de fuentes de reloj

La pureza de la señal de las fuentes de reloj influye directamente en el rendimiento del sistema, por lo que es necesario verificarla.

Más información

Analizador de ruido de fase de 1 MHz a 50 GHz con conversión descendente directa y correlación cruzada

Analizador de ruido de fase de 1 MHz a 50 GHz con conversión descendente directa y correlación cruzada

Una nueva solución de medición del ruido de fase cubre el rango de frecuencias comprendido entre 1 MHz y 50 GHz con mezcladores I/Q analógicos de conversión descendente directa y muestreo de la señal de banda base .

Más información

Productos relacionados

El generador de señales de RF y microondas R&S®SMA100B

El generador de señales de RF y microondas R&S®SMA100B

El generador de señales de RF y microondas R&S®SMA100B ofrece el máximo rendimiento sin mermar la calidad de señal.

Información del producto

Analizador de ruido de fase R&S®FSWP y probador VCO (oscilador controlado por voltaje)

Analizador de ruido de fase R&S®FSWP y probador VCO (oscilador controlado por voltaje)

El analizador de ruido de fase y probador de osciladores controlados por voltaje R&S®FSWP combina unas fuentes internas de ruido extraordinariamente bajo con la tecnología de correlación cruzada.

Información del producto

Osciloscopio R&S®RTO2000

Osciloscopio R&S®RTO2000

Con anchos de banda de 600 MHz hasta 6 GHz, los osciloscopios de la serie R&S®RTO2000 son excelentes tanto en el dominio temporal como frecuencial.

Información del producto

Vídeos relacionados

First class ADCs thanks to first class signals

First class ADCs thanks to first class signals

This video presents how the R&S®SMA100B supports you in measuring the true performance of ADCs. The R&S®SMA100B provides you with purest signals. This makes ADC testing easy and helps you improving your products.

More information

Signals with lowest phase noise

R&S®SMA100B - Signals with lowest phase noise

Radar engineering, data converter testing, base station blocking tests - all of them require signals with lowest phase noise at the relevant offset frequencies.

More information

Demystifying 5G - Testing a 5G IF transceiver

Esclareciendo 5G - Probando un transceptor de FI 5G

Este video demuestra cómo comprobar un transceptor discreto para 5G NR basado en los últimos conversores de datos de Texas Instruments.

Más información

Demystifying 5G - Testing the true performance of ADCs

Esclareciendo la 5G: Pruebas del rendimiento real de los convertidores A/D

El generador de señales de radiofrecuencia y de microondas analógico R&S®SMA100B de Rohde & Schwarz combina la máxima potencia de salida con un ruido de fase y de banda ancha bajos. Estas características lo convierten en el dispositivo ideal para la realización de pruebas de convertidores A/D y D/A de alta resolución, tal y como se muestra en el vídeo.

Más información

Demystifying 5G - Wideband noise and its impact on testing the true performance of ADCs

Esclareciendo la 5G: El ruido de banda ancha y su efecto en las pruebas del rendimiento real de los convertidores A/D

El siguiente vídeo se centra en el ruido de banda ancha y su efecto en el rendimiento de los convertidores A/D.

Más información

Temas relacionados y soluciones

Diseños electrónicos

Diseños electrónicos

Los ingenieros electrónicos se enfrentan actualmente a desafíos cada vez más complejos a la hora de diseñar y desarrollar arquitecturas de placas integradas.

Más información

Diseños y pruebas de tipo analógico/digital

Diseños y pruebas de tipo analógico/digital

Los diseños de los sistemas electrónicos modernos integran cada vez más funcionalidad en menos espacio, lo que da como resultado mayores velocidades de transferencia de datos y menores niveles de señal.

Más información

Pruebas de componentes de RF y microondas

Pruebas de componentes de RF y microondas

Los componentes deben satisfacer las elevadas exigencias de movilidad, conectividad, altísima velocidad de transferencia de datos, robustez y eficiencia energética.

Más información

Solicitar información

¿Tiene preguntas o necesita información adicional? Simplemente complete este formulario y nos pondremos en contacto con usted.

Permiso de marketing

Se ha enviado su solicitud. Nos pondremos en contacto con usted en breve.
An error is occurred, please try it again later.