Ces dernières années, il y a eu une augmentation substantielle dans l'utilisation des appareils actifs fonctionnant aux fréquences des ondes millimétriques et sub-terahertz. De tels appareils trouvent des applications dans diverses industries, y compris automobile, radar, astronomie radio, mesure à distance, militaire et bien d'autres.

La mesure des paramètres S a toujours été une manière acceptée pour caractériser ces appareils. Nous analyserons la manière dont les VNA sont utilisés pour caractériser ces DUT au sein d'applications à conversion de fréquence linéaire et de non conversion de fréquence.

Lorsque les appareils commencent à être conduits dans des régions non linéaires, les paramètres S standards ne sont plus suffisants pour une caractérisation complète de l'appareil, et de nouvelles techniques doivent être utilisées.

Nous analyserons les techniques qui mesurent les paramètres S à des niveaux de puissance spécifiés par l'utilisateur, nous évoquerons les mesures précises et répétables de la compression de gain, ainsi que les mesures load-pull actives autres que 50 ohms sur des dispositifs sous test avec des conditions de larges signaux, qui rendent possible la validation d'appareils non linéaires, et comment créer des réseaux à correspondance idéale afin d'optimiser la performance du dispositif sous test.