Eccezionali prestazioni RF: livelli elevati di gamma dinamica e sensibilità
Per facilitare il debug delle EMI, gli oscilloscopi MXO dispongono di un'elevata gamma dinamica e di una sensibilità d'ingresso di 500 μV/div alla massima larghezza di banda di misura, che consente di rilevare anche le emissioni più deboli. L'ADC a 12 bit e la modalità HD a 18 bit migliorano la precisione verticale. La FFT accelerata via hardware rende l'analisi nel dominio della frequenza veloce e reattiva grazie all'elevata frequenza di acquisizione e a funzioni quali la codifica a colori della visualizzazione spettrale in base alla frequenza di occorrenza.
Funzione aggiuntiva per il debug delle EMI
- Analisi FFT ultraveloce: la frequenza di aggiornamento > 45.000 FFT/s consente di catturare eventi spettrali spuri e sfuggenti
- Display logaritmico e scale in dBμV: facile confronto con i risultati di laboratorio dei test EMC e verifica con le linee limite basate sugli standard CISPR
- Risultati rapidi con la misurazione automatica dell'elenco dei picchi: capacità di misurare automaticamente i picchi di frequenza marcati nella FFT ed elencati in una tabella
- Forma d'onda massima/minima e media: le forme d'onda statistiche registrano il valore massimo, minimo e medio dell'energia spettrale
FFT gated: correlazione tra frequenza e tempo
La funzione FFT gated dell'oscilloscopio consente l'analisi FFT su una regione definita dall'utente del segnale acquisito nel dominio del tempo. Spostare questa finestra temporale sul segnale per determinare quali segmenti del segnale nel dominio del tempo siano correlati a quali eventi nello spettro. Ad esempio, è possibile correlare le emissioni indesiderate degli alimentatori a commutazione con gli overshoot dei transistor di commutazione.