クロックの検証および代用

ジッタおよび位相雑音性能検証

A/DコンバーターおよびD/Aコンバーター（ADC/DAC）は、10年前と比べて速度面で大きく進歩しました。16ビット分解能で10 Gサンプル／秒のサンプリングレートも登場しています。これらのデバイスにより、高速ビデオ処理やソフトウェア定義無線機（SDR）アプリケーションが可能になります。これらのアプリケーションでは、これまで以上に高いRF周波数でデジタル化が行われます。このため、特にジッタや雑音特性に関するクロック発生とテストに必要なレベルが明らかに高くなっています。

クロックの検証および代用のソリューション

理想的なクロックソースが必要な場合

今日のデジタルデザインと高速データコンバーターには、ジッタが最小のクリーンなクロックが必要です。

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タイムドメインと周波数ドメインのジッタ測定の比較

高速と低速の移動アーチファクトを区別するため、タイムドメイン用と周波数ドメインのジッタ測定を使用します。

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クロックソースの検証

クロックソースの信号純度は、システムの性能に直接影響を与えるため、検証が必要です。

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1 MHz～50 GHzをカバーする、相互相関法を使用したダイレクトダウンコンバージョン方式の位相雑音アナライザ

新しい位相雑音テストソリューションは、ダイレクトダウンコンバージョン方式のアナログI/Qミキサーとベースバンド信号サンプリングを使用して周波数レンジ1 MHz～50 GHzをカバーします。

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R&S®SMA100B RF/マイクロ波信号発生器

R&S®SMA100B RF/マイクロ波信号発生器は、妥協のない最高の性能を提供します。

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R&S®FSWP 位相雑音アナライザ/VCOテスタ

R&S®FSWP 位相雑音アナライザ/VCOテスタは、極めて低ノイズの内蔵信号源と相互相関技術を組み合わせて使用します。

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R&S®RTO2000 オシロスコープ

600 MHz～6 GHzの帯域幅を備えたR&S®RTO2000 オシロスコープは、タイムドメインと周波数ドメインの両方のテストで威力を発揮します。

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This video presents how the R&S®SMA100B supports you in measuring the true performance of ADCs. The R&S®SMA100B provides you with purest signals. This makes ADC testing easy and helps you improving your products.

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