스펙트럼 분석기 및 프로브를 이용한 Differential 측정

구성 요소의 크기 감소와 Board 크기의 지속적인 감소로 인해 RF 기기의 측정을 위한 적절한 연결 구성이 점점 어려워지고 있습니다.최근 RF 회로의 개선에 따른 고성능 Differential building block의 사용으로 테스트 장비의 연결 문제가 심화되고 있습니다. 오실로스코프 프로브를 사용하면 PCB 라인 및 칩 접점에 최소한의 접촉 면적으로 필요한 측정을 수행할 수 있습니다. 이 애플리케이션 노트는 스펙트럼 분석기를 사용하는 RF 측정 시 오실로스코프 프로브를 사용하는 방법에 대해 설명하며, 스펙트럼 분석기를 이용한 Differential 측정 분석 결과를 보여줍니다.