R&S®ZNB를 사용하는 고속 디지털 신호 라인의 정밀 측정
데이터 속도가 계속해서 증가함에 따라 고속 디지털 설계와 적용된 구성 부품의 신호 무결성 측면이 더욱더 까다로워지고 있습니다. 특히 높은 데이터 레이트에서 커넥터, 케이블, PCB 등의 패시브 구성요소 테스트에 기존 TDR(Time Doman Reflectometry) 셋업 대신 VNA(Vector Network Analyzer)가 사용되는 사례가 증가하고 있습니다. 이 분야에서는 사용자에게 정확도, 속도, ESD 견고성을 제공하는 VNA를 가장 선호합니다.