SMA100B

Verifizierung der Performance

Charakterisierung von Modulation und Verzerrung

Die direkte HF-Abtastung mit Hochgeschwindigkeits-Datenwandlern gewinnt schnell an Bedeutung. Mit aktuellen Technologien werden Datenraten erreicht, die hoch genug sind, um bis zu 6 GHz und mehr mit ausreichender Performance zu synthetisieren. Dies ermöglicht kompaktere HF-Konzepte, da IQ-Modulation oder -Demodulation und Frequenzerzeugung von den Datenwandlern übernommen werden, sodass traditionelle Komponenten wie Mischer oder IQ-Modulatoren keine Rolle mehr spielen. Während die Datenwandler selbst als HF-Systeme betrachtet werden können, verlangen mehr Anwender Performance auf Systemebene, z. B. 5G-EVM-Performance.

Verwandte Videos

RF sampling ADCs: how to verify modulation performance

Demystifying 5G – ADCs mit HF-Abtastung: Wie lässt sich die Modulationsleistung verifizieren?

In diesem Video zeigen wir, wie die Modulationsleistung eines Hochgeschwindigkeits-A/D-Wandlers auf der digitalen Seite verifiziert werden kann.

Demystifying 5G - Testing a 5G IF transceiver

Demystifying 5G – Testen eines 5G IF-Transceivers

In diesem Video zeigen wir Ihnen, wie ein diskreter Transceiver für 5G NR auf Basis der neuesten Datenumsetzer von Texas Instruments getestet werden kann.

Demystifying 5G - Testing the true performance of ADCs

Demystifying 5G – Nachweis der echten Leistungsfähigkeit von ADCs

Der analoge R&S®SMA100B HF- und Mikrowellen-Signalgenerator von Rohde & Schwarz verbindet höchste Ausgangsleistung mit minimalem Phasen- und Breitbandrauschen und ist somit ideal für hochauflösende ADC/DAC-Tests.

Demystifying 5G - Wideband noise and its impact on testing the true performance of ADCs

Demystifying 5G – Breitbandrauschen und dessen Auswirkungen auf den Nachweis der echten Leistungsfähigkeit von ADCs

Wir vergleichen das Breitbandrauschen herkömmlicher Signalgeneratoren mit der Leistung des analogen R&S®SMA100B HF und Mikrowellen-Signalgenerators von Rohde & Schwarz, der ein über 10 dB besseres Breitbandrauschen bietet.

Debug an AD converter using digital channels

Fehlersuche an A/D-Wandlern mit digitalen Kanälen

Die Option R&S®RTO-B1 bietet zur Fehlersuche und Analyse zahlreiche Triggerarten wie Flanke, Pulsbreite, Pattern und Serial Pattern.

Verwandte Themen

Elektronikentwicklung

Elektronikingenieure sehen sich heute mit immer komplexeren Herausforderungen beim Design und der Entwicklung elektronischer Baugruppen konfrontiert.

Mehr Informationen

5G NR

Flexible, zukunftssichere Lösungen für die 5G-Signalerzeugung und -analyse sowie OTA-Tests

Mehr Informationen

Testen von HF- und Mikrowellen-Komponenten

Komponenten müssen den hohen Anforderungen an Mobilität, Konnektivität, Übertragungsgeschwindigkeit, Robustheit und Energieeffizienz gerecht werden.

Mehr Informationen

Request information

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.

Marketing-Einverständniserklärung

Ihre Anfrage wurde erfolgreich versendet. Wir nehmen in Kürze Kontakt mit Ihnen auf.
An error is occurred, please try it again later.