Question
J'utilise un récepteur de mesure couplé à EMC32. Je voudrais ouvrir un test de sortie et lui ajouter une nouvelle ligne de valeur limite pour une évaluation plus poussée. Cette opération est-elle
possible ?
Ouvrir un test de sortie et ajouter une nouvelle ligne de valeur limite
Réponse
Oui, c'est possible.
La limite doit être disponible dans la base de données d'EMC32. Dans la négative, elle devra d'abord être ajoutée à EMC32.
Une fois la limite disponible, procédez comme suit :
- Ouvrez le test de sortie dans EMC32 Explorer.
- Cliquez sur le graphique avec le bouton droit de la souris.
- Sélectionnez "New Trace" (Nouvelle trace) => "From Table" (Depuis table)
- Sélectionnez la nouvelle limite que vous souhaitez ajouter.
- Sélectionnez le style de trace ("Trace Style") que vous souhaitez utiliser.
La nouvelle limite s'affiche dans le graphique. Une fois l'opération terminée, vous pouvez lancer une nouvelle recherche de pic ("Peak Search") pour la nouvelle limite au moyen de l'évaluation d'interférence électromagnétique – évaluation EMI (ElectroMagnetic Interference) :
- Dans la barre de menu, sélectionnez "Test“ => "EMI Analysis“ (Analyse EMI).
- Choisissez une fonction d'évaluation ; par exemple, "Peak Seach" (Recherche de pic).
- En guise d'entrée pour l'évaluation, sélectionnez "Result Table" (Tableau de résultats) sur la droite.
- Définissez la valeur "Relative Threshold Level" (Niveau de seuil relatif).
- Nommez le tableau de sortie, puis cliquez sur "OK".
Côté fichier de sortie, vous pouvez exécuter des fonctions d'analyse EMI supplémentaires ; par exemple, l'analyse de réception fondée sur la nouvelle ligne de valeur limite. Un nouveau fichier de sortie est alors généré.
Vous pouvez alors ajouter le tableau de résultats avec les fréquences critiques au graphique de sortie.
Pour ce faire, utilisez le glisser-déposer ou le bouton droit de la souris (=> "New Trace" (Nouvelle trace) => "From this Test" (Depuis ce test))...
... et sélectionnez le style de trace ("Trace Style") souhaité pour vos nouvelles fréquences critiques.
N'oubliez pas que, si le dispositif sous test (DUT, Device Under Test) n'est plus disponible et si la nouvelle limite est plus contraignante qu'auparavant, l'évaluation identifiera de nouveaux pics, qui doivent être mesurés au moyen de détecteurs CISPR.
Dans de tels cas, un récepteur de mesure avec l'option "Time Domain Scan" (Analyse du domaine temporel) peut s'avérer utile. Grâce à l'avantage considérable qu'il confère en termes de vitesse, un détecteur CISPR permet de procéder à une analyse du domaine temporel sur l'intégralité de la plage de fréquence. Si la maximisation n'est pas nécessaire (aucun ajustement d'accessoires CEM), aucune mesure finale avec le DUT n'est à nouveau requise.
