Prueba de integridad de potencia

Los dispositivos electrónicos actuales altamente integrados utilizan niveles de tensión más bajos, y para funcionar con confiabilidad requieren niveles de rizado más bajos en los carriles de alimentación. El reto consiste en ser capaces de medir con precisión señales de niveles muy pequeños de mV sobre carriles de alimentación de 1 a 3 V. Este vídeo muestra cómo se puede utilizar el osciloscopio R&S®RTE con su front-end de bajo ruido y la rápida frecuencia de actualización para medir con rapidez y precisión voltajes de rizado de pico a pico. La vista de espectro facilita un análisis aún más profundo de la señal.