Misure differenziali con analizzatori di spettro e sonde

Le dimensioni sempre più ridotte dei componenti e dello spazio disponibile sulle schede rappresentano una sfida in termini di posizionamento di connessioni di test adeguate per strumenti in RF. I recenti miglioramenti nella disponibilità e nell’uso di blocchi costruttivi differenziali ad alta prestazione in circuiti a RF complicano ulteriormente le operazioni di connessione di apparecchiature di test. L’uso di sonde di oscilloscopi è una possibilità per eseguire misure collegando le linee delle schede a circuiti stampati e i contatti dei chip in modo che sia necessaria solo un’area minima per il contatto. In questa nota di applicazione vengono fornite informazioni su come usare sonde di oscilloscopi in misure a RF per mezzo di analizzatori di spettro e mostrati i risultati di misure differenziali eseguite con un analizzatore di spettro.