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Creazione di un amplificatore “intelligente” a basso rumore personalizzato
mar 18, 2019
Questa nota applicativa è una guida sistematica scritta per aiutare i tecnici del collaudo a configurare l’analizzatore di reti vettoriali per eseguire prove di conformità sui cavi Automotive Ethernet secondo lo standard Open Alliance TC9.
ago 13, 2019 | AN-No. GFM323
Oct 25, 2022
Rohde & Schwarz announces RF Lumination seminar tour to take place in EuropeThe upcoming educational RF Lumination seminar series from Rohde & Schwarz shines a light on typical applications in the RF and microwave industry. In multiple events across Europe, participants can find out more about vector network analysis or learn about applications such as load-pull measurements or power amplifier characterization.
Gli oscilloscopi Rohde & Schwarz soddisfano i requisiti delle attività di analisi della risposta in frequenza e offrono un’alternativa economicamente conveniente agli analizzatori di reti a bassa frequenza autonomi dedicati.
giu 19, 2019
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-Z151 Calibration Unit
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-Z5x Calibration Unit
Con il continuo aumento della velocità dei dati, l'integrità del segnale nei progetti digitali ad alta velocità diventa sempre più impegnativa
lug 08, 2022
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-Z15x Calibration Units.
Rohde & Schwarz user manual for the external RFFE/GPIO interface R&S®ZN-Z15
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-ZE1xx unità di calibrazione.
Ho configurato il mio VNA sulla modalità sweep singolo e attivato la formazione della media con un fattore pari a 10. Ma quando riavvio lo sweep singolo, si arresta dopo 1 sweep e l'averaging non viene effettuato.
Rohde & Schwarz Guida rapida all'analizzatore di rete vettoriale R&S®ZNA
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-Z154 Calibration Unit.
Guida rapida Rohde & Schwarz per l'analizzatore di rete vettoriale R&S®ZNLE
Questo documento descrive l'applicazione unica del VNA di Rohde & Schwarz per la caratterizzazione completa della parte passiva delle antenne multi-elemento.
mar 20, 2017 | AN-No. 1MA278
Guida rapida Rohde & Schwarz per l'analizzatore di rete vettoriale R&S®ZNC/ZND
Rohde & Schwarz - Manuale d'uso per R&S®ZN-Z85 Switch Matrix
Rohde & Schwarz Guida rapida all'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNB/ZNBT
Rohde & Schwarz - Manuale d'uso per R&S®ZN-Z3x Sistema di Calibrazine
Desidero eseguire una calibrazione con 75 Ohm su ZNB/ZND/ZVA. Questi VNA accettano l'unità di autocalibrazione ZV-Z53 con impedenza di 75 Ohm?
Rohde & Schwarz - Manuale d'uso per R&S®Z86/ZN-Z86X Switch Matrix
Manuale d'uso Rohde & Schwarz per R&S®ZN-Z84 Switch Matrix
Questo video offre una panoramica su come calibrare l'analizzatore R&S®ZND, come eseguire misure di accuratezza VNA, misure dei parametri S e di impedenza
Rohde & Schwarz offre una potente soluzione per il test di segnali a banda larga compatibile con le bande a onde millimetriche (comprese le bande 5G), per la caratterizzazione degli amplificatori integrati.
gen 08, 2019
In questa nota applicativa viene descritto come configurare un analizzatore di reti Rohde & Schwarz per eseguire misure spettrali direttamente su un dispositivo sotto test.
mar 16, 2012 | AN-No. 1EZ62
In combinazione con l’opzione per le misure nel dominio del tempo R&S®ZNA-K2 e l’opzione estesa per le misure nel dominio del tempo R&S®ZNA-K20, l'analizzatore di reti vettoriale VNA R&S®ZNA permette di effettuare comodamente svariate misure di integrità del segnale.
La loro ricerca sulla tracciabilità dei parametri S li ha posti all'avanguardia nella scienza dell'incertezza di misura dei VNA. Con l'introduzione dell'opzione di incertezza di misura R&S®ZNA K50, Rohde & Schwarz ha collaborato con METAS per portare la potenza di VNA Tools sull'analizzatore R&S®ZNA.
Jul 19, 2022
Rohde & Schwarz announces on-wafer device characterization test solutionRohde & Schwarz now offers a test solution for full RF performance characterization of the DUT on-wafer which combines the powerful R&S ZNA vector network analyzer from Rohde & Schwarz with industry-leading engineering probe systems from FormFactor. As a result, semiconductor manufacturers can perform reliable and repeatable on-wafer device characterization in the development phase, during product qualification and in production.
Questa scheda applicativa descrive un metodo semplificato per la caratterizzazione dei materiali nel dominio delle frequenze radar automobilistiche (da 76 GHz a 81 GHz) con il tester per radome automobilistici R&S®QAR50.
mag 22, 2024
Generating models with a VNA and using these on an oscilloscope via the deembedding
May 23, 2023 | AN-No. 1SL393