Передовые методы измерения паразитных сигналов с помощью R&S®FSW-K50

Поиск паразитных излучений с помощью анализаторов спектра является одним из наиболее сложных видов измерений на этапах проектирования, верификации и производства радиочастотные и микроволновых устройств. Разработчики ВЧ-оборудования, особенно в аэрокосмической и оборонной промышленности, должны выявлять малейшие паразитные излучения. Для измерений с низким уровнем собственного шума требуются очень узкие полосы разрешения, что увеличивает время измерения. Даже при использовании высокоскоростных анализаторов спектра процедура поиска паразитных излучений может занимать несколько часов или даже суток.

В данном документе рассматриваются основы измерений паразитных составляющих и влияния используемых параметров на эффективность обнаружения. В приложении R&S®FSW-K50 для измерения паразитных составляющих применяется новая технология, которая ускоряет поиск и упрощает настройку конфигурации.