Я выполняю измерения на импульсно-модулированном сигнале. Для получения дополнительной информации я использую режим сбора данных «High Resolution» (высокое разрешение). Но при переключении с режима «Sample» (выборка) на режим «High Resolution» (высокое разрешение) амплитуда падает, поэтому теряются детали. Что не так?
Во встроенном ПО нет ошибки.
Режим «High Resolution» (высокое разрешение) помогает снизить уровень шума, но не обеспечивает отображение большего количества деталей. Даже наоборот — по нескольким выборочным точкам рассчитывается среднее значение, что фактически снижает разрешение. Прилагаемый чертеж демонстрирует функциональную схему. Расчет среднего значения снижает уровень шума. Для высокочастотных сигналов частота дискретизации слишком мала (грубая выборка), что приводит к такому эффекту. Более высокие частоты обрабатываются как шум.
Для корректного обнаружения сигнала необходимо выбрать более быструю временную развертку.
На прилагаемых снимках экрана показан пример. В качестве сигнала выступает немодулированный сигнал частотой 13 МГц с импульсной модуляцией.
SCR10.PNG: режим сбора данных «Sample» (выборка) --> все корректно
SCR9.PNG: такая же временная развертка, как и до этого с режимом «High Resolution» (высокое разрешение) --> частота дискретизации слишком мала для корректного обнаружения сигнала частотой 13 МГц
SCR11.PNG: режим «High Resolution» (высокое разрешение) с более быстрой временной разверткой. Амплитуда почти корректна.
Заключение
Для режима сбора данных «High Resolution» (высокое разрешение) необходима более быстрая временная развертка!
