In den letzten Jahren haben aktive Bauelemente, die im Millimeterwellen- und Sub-Terahertz-Bereich arbeiten, erheblich an Verbreitung gewonnen. Solche Bauelemente werden in verschiedenen Branchen eingesetzt, z. B. in der Automobilindustrie, in Radaren, in der Radioastronomie, in der Fernerkundung, im Militär und in anderen Bereichen.

Die Messung von S-Parametern ist eine lange etablierte Methode zur Charakterisierung dieser Geräte. Wir werden uns ansehen, wie VNAs zur Charakterisierung dieser Prüflinge für lineare frequenzumsetzende und nicht frequenzumsetzende Anwendungen eingesetzt werden.

Wenn die Bauelemente in den nichtlinearen Bereich vorstoßen, reichen die gewöhnlichen S-Parameter für eine vollständige Charakterisierung der Bauelemente nicht mehr aus, und es müssen neue Techniken eingesetzt werden.

Wir werden Techniken zur Messung von S-Parametern bei benutzerdefinierten Leistungspegeln untersuchen, genaue und wiederholbare Verstärkungskompressionsmessungen sowie aktive Nicht-50-Ohm-Load-Pull-Messungen an Prüflingen unter Großsignalbedingungen besprechen, die die Validierung nichtlinearer Gerätemodelle ermöglichen, und zeigen, wie man ideale Anpassnetzwerke zur Maximierung der Prüflingsleistung erstellt.