Lösungen für die Schaltanalyse von Leistungswandlern

Webinar: Uncovering hidden signal anomalies with high resolution oscilloscopes

This webinar uncovers how high-resolution oscilloscopes can transform modern electronics debugging.

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White Paper: Oszilloskopmessungen zur Erfüllung der Verifizierungsanforderungen für Vollbrückenwandler

Dieses White Paper befasst sich eingehend mit den Herausforderungen beim Testen von Vollbrückenwandlern und erläutert, wie sich der Validierungsprozess optimieren lässt.

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White Paper: Schaltanalyse

Insbesondere bei sicherheitskritischen Systemen im Automotive-, Aerospace- und Verteidigungssektor ist es unerlässlich, die Zuverlässigkeit von Leistungswandler-Designs zu testen. Dynamische Faktoren wie die Arbeitspunkte von Komponenten, etwa die DC-Bias-Charakteristik von MLCCs, und lastabhängige Resonanzen, wie sie bei Body-Dioden auftreten, müssen berücksichtigt werden. Durch Alterung und Temperaturschwankungen können sich Bauteile außerdem verändern. Eine hohe Testabdeckung ist für die Charakterisierung von Wandlern bei verschiedenen Belastungen und in unterschiedlichen Umgebungen unter Berücksichtigung des Einschwingverhaltens von entscheidender Bedeutung. In diesem White Paper gehen wir eingehend auf Methoden zur Sondierung, Schaltanalyse und Zuverlässigkeitsprüfung ein.

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AppCard: Optimierung elektrischer Antriebsstränge mit MXO Oszilloskopen

Für die Automobilindustrie bedeutet die Elektrifizierung einen Paradigmenwechsel. Präzise Messungen und Analysen elektrischer Antriebsstränge spielen eine entscheidende Rolle für die Optimierung von Performance, Effizienz und Zuverlässigkeit. Die MXO-Oszilloskope sind zu einem unverzichtbaren Testwerkzeug für diese Messungen geworden. Dank Echtzeit-Einblicken in Spannungs- und Stromwellenformen können Ingenieure und Techniker komplexe Mechanismen im Detail analysieren, um die Performance und Effizienz von Antriebssträngen zu verbessern.

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AppCard: Höheres Vertrauen in den Betrieb von Vollbrückenwandlern während des Entwicklungsprozesses

Leistungswandler mit einer Vollbrückentopologie werden häufig in der Telekommunikation und in Servern eingesetzt, die kompakt, effizient und kostengünstig sein müssen. Diese Faktoren tragen zur Komplexität bei. Nach dem Bau des ersten Prototyps müssen die Schaltmuster aller wesentlichen Primärschalter, einschließlich der Synchrongleichrichter-Schalter, validiert werden. Diese komplexe Validierung erfordert eine genaue Messung der Schaltmuster, um katastrophale Schaltmuster zu vermeiden. Fachwissen und geeignete Messwerkzeuge sind unerlässlich, um unerwartete Ereignisse in den Schaltvorgängen des Wandlers zu erkennen.

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Application Note: Grundlagen für Tests von AC-DC-Wandlern

In der Application Note werden die gängigsten Schaltungen, die für unterschiedliche Leistungspegel zum Einsatz kommen, vorgestellt. Wandler für Schaltnetzteile (SMPS) stehen im Mittelpunkt, da sie überall in der Elektronik eingesetzt werden. Insbesondere wird das Design von Sperrwandlern in verschiedenen Ausführungen beleuchtet.

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Webinar: Understanding inductor saturation impact on control design

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die sich mit dem Design von Leistungselektronik beschäftigen.

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Webinar: Fundamentals of switched-mode power supply design with saturated inductors

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die sich mit dem Design von Netzteilen beschäftigen.

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Webinar: Switching analysis – testing for reliability in power converter design

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die sich mit dem Design von Leistungswandlern beschäftigen.

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Schritt-für-Schritt-Leitfaden: Double pulse testing

Dieser Schritt-für-Schritt-Leitfaden beschreibt das Grundkonzept von Doppelpulstests (DPT) und den erforderlichen Messaufbau und gibt einen Überblick über die Parameter, die die Messung beeinflussen. Außerdem werden praktische Tipps für die Durchführung der Messungen gegeben.

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Verifizierungsmethoden für Snubber-Schaltungen in Sperrwandlern

Die Integration einer Snubber-Schaltung in der Stromversorgungstopologie macht in der Design-Phase entsprechende Verifizierungsmethoden erforderlich, um Funktion und Zuverlässigkeit des Designs sicherzustellen. Solche Verifizierungsmethoden sind das Schwerpunktthema dieser Application Note.

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Tipps und Tricks für Doppelpulstests

Von der Gestaltung des Messaufbaus bis zur Durchführung exakter Messungen. Der Doppelpulstest ist ein Standardtestverfahren bei der Entwicklung von Leistungselektronik. Exakte Messungen erfordern einen sorgfältigen Messaufbau und die Auswahl der passenden Messgeräte. In dieser Application Note werden wichtige Aspekte in Bezug auf den Messaufbau für Doppelpulstests sowie die Durchführung exakter Messungen besprochen.

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AppCard: Erweiterte Testabdeckung bei Halbbrückenkonfigurationen mit harter Schaltung

Die Designs von Leistungswandlern und Wechselrichtern für höhere Leistungen basieren üblicherweise auf Halbbrückenkonfigurationen mit harter Schaltung. Bei derartigen Aufbauten müssen Anwender besonderes Augenmerk auf korrekte Schaltvorgänge legen, um Kurzschlussereignisse (Shoot-Through) zu vermeiden. Die Konfiguration komplexer Echtzeit-Triggerbedingungen mit den R&S®RTE und R&S®RTO Oszilloskopen erweitert die Testabdeckung und somit die Robustheit von Wandler- und Wechselrichtersystemen.

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White Paper: Gate drive measurement considerations

Je kürzer die Ein- und Ausschaltzeiten sind, die sich mit einem Gate-Treiber realisieren lassen, desto schwieriger wird es, exakte Messungen durchzuführen. Sowohl die Auswahl des richtigen Tastkopfs als auch der Einsatz eines optimierten Messverfahrens wirken sich maßgeblich auf die Messgenauigkeit aus. Dieses White Paper bietet eine Orientierungshilfe.

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Webinar: Half bridge and gate drive measurements and techniques

Registrieren Sie sich und sehen Sie sich das Webinar vom März 2020 an: Messungen an Halbbrücken- und Gate-Treiber-Schaltungen – Anforderungen und Messverfahren, mit Tom Neville, Technology Manager bei Rohde & Schwarz.

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White Paper: Testing SiC designs

In diesem White Paper werden die Herausforderungen in Bezug auf elektromagnetische Störaussendungen (EMI) erörtert, die sich aus der Überführung eines Designs von Si nach SiC ergeben. Es werden geeignete Testwerkzeuge und -verfahren sowie Methoden zur EMI-Minimierung und -Optimierung vorgestellt.

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