雑音指数が非常に高いコンポーネントの測定を実行するのには、多くの理由があります。例えば、さまざまなアプリケーションにて、被試験デバイス（DUT）を特性評価するための複雑なテストセットアップでは、低ノイズDUTの前後に高い損失が含まれます。高周波の場合、複雑な信号ルーティングや配線を含むスイッチマトリクスには非常に高い損失があります。さらに、デバイスが組み込まれているテストセットアップでは、ダイレクトアクセスが物理的に不可能な場合もあります。オンウエハーのプロービングがそのような場合の一例です。従来の測定器を使用した場合、そのようなデバイスの雑音指数測定はまったく不可能ではないにしても、非常に不安定です。
This application note describes a technique to perform the noise figure measurement on lossy devices like attenuators, or on devices embedded into in test setups with high loss in front of the low noise amplifiers. The R&S®FSW-K30 noise figure measurement application performs this important measurement with a signal and spectrum analyzer using the Y-factor method. Key for this technique is a modified noise source with high level noise output signal that stimulates the device under test, and a sensitive spectrum analyzer that captures the signal from the device.
