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261 結果
This application note reviews a new calibration subsystem which consists of Inline Calibration Units (ICUs). These ICUs are designed for in situ use, so they are left in place both during the calibration procedure and during the measurement of the Device Under Test (DUT).This adds versatility, convenience and accuracy to the VNA based measurement system, as it means the calibration can be refreshed at any time without manually disconnecting the DUT from the test system.
Sep 29, 2017 | AN 番号 1EZ71
このアプリケーションノートでは、低雑音増幅器の前段にある高損失アッテネータのようなデバイスの雑音指数測定をFSW-K30で実行する手法を紹介します。
6月 24, 2020 | AN 番号 1EF110
Mar 05, 2024 | Press Release | EMC testing
Rohde & Schwarz at EMV 2024: Outstanding T&M solutions from the market leader in EMCAt the EMV show 2024 in Cologne, Rohde & Schwarz showcases a comprehensive range of EMC test and measurement solutions – ranging from standalone instruments and software to application-specific systems. The company dedicates a large part of the booth to demonstrations that show EMI compliance testing, EMC test automation, EMS immunity test, EMI debugging and EMF. The Rohde & Schwarz solutions are on display from March 12 to 14, 2024 at the Cologne exhibition center, hall 11.1, booth 106.
12月 20, 2021 | Press Release
Sivers Semiconductors社とローデ・シュワルツが、最高71 GHzの5G対応RFトランシーバ評価で協力Sivers Semiconductors社とローデ・シュワルツが、最高71 GHzの5G対応RFトランシーバ評価で協力
12月 20, 2021 | Press Release
Sivers Semiconductors社とローデ・シュワルツ、最高71 GHzの5G対応RFトランシーバ評価で協力Sivers Semiconductors社とローデ・シュワルツ、最高71 GHzの5G対応RFトランシーバ評価で協力
このアプリケーションノートでは、R&S ZNA、ZNB、ZNBT、およびZND ベクトル・ネットワーク・アナライザを用いてそのようなリードイン/リードアウト構造を正確に特性評価してディエンベディングするための実践的なヒントを提供します。
9月 19, 2022 | AN 番号 1SL367
8月 01, 2022 | Press Release
ローデ・シュワルツから、オンウェハ・デバイスの特性評価試験ソリューションをご紹介ローデ・シュワルツから、オンウェハ・デバイスの特性評価試験ソリューションをご紹介
EVM is an important figure of merit when testing DUTs. Customers expect test equipment to deliver excellent EVM performance out of the box, without the need for extensive configuration and calibration procedures. EVM is an important figure of merit when testing DUTs.
このアプリケーションノートでは、「Yファクタ」法を使用してスペクトラム・アナライザで雑音指数を測定する際に必要な手順を詳しく説明します。計算の各ステップのバックグラウンド方程式を提示します。
7月 25, 2012 | AN 番号 1MA178
ローデ・シュワルツの最先端のソリューションを使用してRFパワーアンプの測定セットアップを強化する方法を説明します。
Apr 13, 2021 | Press Release | Wireless communications
Rohde & Schwarz updates R&S PWC200 to provide even more accuracy in 5G FR1 base station OTA testingThe latest software update to the R&S PWC200 plane wave converter (PWC) increases measurement accuracy and refines usability thanks to a new calibration method. With these updates, Rohde & Schwarz extends the possible use cases of its innovative 5G massive MIMO base station testing solution in R&D, quality assurance and production as well as conformance testing. While the software will be preinstalled in new units, existing R&S PWC200 units can be upgraded.
テスタとしてR&S CMP180 CMPflexxシステムを、被試験デバイス(DUT)としてWi-Fi 7ルーターを使用します。 ローデ・シュワルツは、Wi-Fi 7(IEEE 802.11be)の4x4 true MIMO測定(最大帯域幅320 MHz、最大周波数バンド6 GHz)のデモを実施します。テスタとしてR&S CMP180 CMPflexxシステムを、被試験デバイス(DUT)としてWi-Fi 7ルーターを使用します。 R&S CMP180 無線機テスタは、単体でアナライザと発生器をそれぞれ2台使用でき、2×8個のRFポートを搭載しています。複数台のテスタを組み合わることで、簡単にCMPflexxシステムに拡張できます。R&S CMP180は、最大8 GHzの周波数レンジと最大500 MHzの帯域幅に対応し、複数のDUTを同時にテストできます。
UCORを使用すると、周波数応答が補正されたRF信号がDUTの新しい基準面で得られます。 ビデオ, 信号発生器,Smb100b, UCOR(ユーザー補正) UCORを使用すると、周波数応答が補正されたRF信号がDUTの新しい基準面で得られます。
外部信号発生器を使用して干渉信号を生成する場合、すべてのDUTでBluetoothレシーバーの相互変調およびブロッキング性能試験に失敗します。
CMWrunでのテスト時に、CMW270/290/500を使用して分離測定を実行しているときにDUTがフェイルします。
このビデオでは、R&S®FSV3-K40 位相雑音測定オプションのIQ/FFTモードを使用して、周波数ドリフトが発生しているDUTの位相雑音を測定する方法を紹介します。 このビデオでは、R&S®FSV3-K40 位相雑音測定オプションのIQ/FFTモードを使用して、周波数ドリフトが発生しているDUTの位相雑音を測定する方法を紹介します。 ビデオ, FSV3000, 位相雑音, VCO位相雑音, FSV3-K40 周波数ドリフトが発生している発振器の位相雑音測定
本ウェビナーでは、優れたテスト速度およびスループットを実現するソリューションについて説明し、1つのセットアップで複数のテストに対応する方法を紹介します。
校正/検証ソリューション
UWB(ウルトラワイドバンド)テクノロジーは、免許不要の周波数帯で動作するデバイス間通信用の近距離広帯域無線テクノロジーです。モバイルデバイス間の正確でセキュアなピアツーピア測距を可能にする最適なRF位置決めテクノロジーであり、きわめて小さい消費エネルギーで高い耐干渉性を発揮し、他の無線通信システムとの共存も容易です。UWBは、資産トラッキング、セキュア決済、パーソナルトラッカー、リアルタイム位置情報サービス、車両へのキーレスアクセス/始動など、さまざまなアプリケーションに使用されます。米国調査会社ABI Research(ABIリサーチ)の予測によると、2026年までに、UWBデバイスの年間出荷台数は10億を大幅に上回る見込みです。2026年に出荷されるほぼすべてのスマートフォンでUWBサービスがサポートされるようになります。UWBデバイスのテスト面について言えば、一般に他の無線製品と同様に、2つのテスト方法を採用できます。1つは、電子計測器と被試験デバイス(DUT)の間を有線でRF接続する従来のテストモード(いわゆる伝導テスト)で、もう1つはOTA電波暗室での無線(OTA)テストモードです。コスト、スペース、複雑さ、製品のRFコネクタへのダイレクトアクセスなどの制限要因により、伝導モードでテストできるとは限らない場合もあれば、伝導モードでのテストが必ずしも必要ではない場合もあります。この場合は、OTAテストは避けられない方法になってきます。さらに、OTAテストは実条件でのDUTの使用を反映しています。このアプリケーションノートでは、無線製造テスト(WMT)環境におけるトランスミッター(Tx)、レシーバー(Rx)、Time of Flight(ToF)テストに対応するR&S® OTAテストソリューションについて説明します。本書に記載されている測定結果は、NXPのTrimension™ NCJ29D5 UWB車載用ICに基づいています。
4月 12, 2023 | AN 番号 1SL394
12月 13, 2021 | Press Release
ローデ・シュワルツが、5G NRミリ波帯デバイスのRRMテストに対応したCATRベースのコンパクトなマルチリ フレクターセットアップを発売ローデ・シュワルツが、5G NRミリ波帯デバイスのRRMテストに対応したCATRベースのコンパクトなマルチリ フレクターセットアップを発売
学会や産業界の有力企業は、5Gより先の6Gモバイル通信や将来の車載レーダー・アプリケーションには、110~170 GHzのDバンドが有力な周波数候補であると考えています。ローデ・シュワルツもこの周波数帯に重点を置いて、サブTHz帯の先駆的な研究を続けるなかで新たなマイルストーンに到達しました。IHP社の協力のもと、ローデ・シュワルツはDバンドで動作する送受信モジュールについて、業界初となるフル2D/3Dによるアンテナの特性評価を実施しました。
ローデ・シュワルツは、バルセロナで開催されたGSMA Mobile World Congress 2016で、R&S®CMW100 マルチデバイス通信製造テストセットを発表しました。マルチポートフロントエンドは放送機能に基づいてパラレルレシーバーテスト機能をサポートし、テスト時間を最小限に短縮します。形状がコンパクトなので可能な限りテストフィクスチャの近くに配置して、ケーブル接続を最短にすることができます。 CMW100, マルチデバイス通信, 製造テスト, セット, マルチポート, フロントエンド, パラレルレシーバーテスト機能, 放送, 最短ケーブル接続 ローデ・シュワルツは、バルセロナで開催されたGSMA Mobile World Congress 2016で、R&S®CMW100 マルチデバイス通信製造テストセットを発表しました。
Jul 19, 2022 | Press Release | Test & measurement
Rohde & Schwarz announces on-wafer device characterization test solutionRohde & Schwarz now offers a test solution for full RF performance characterization of the DUT on-wafer which combines the powerful R&S ZNA vector network analyzer from Rohde & Schwarz with industry-leading engineering probe systems from FormFactor. As a result, semiconductor manufacturers can perform reliable and repeatable on-wafer device characterization in the development phase, during product qualification and in production.
DUTでの校正、検証、測定およびSパラメータのエクスポート このビデオでは、R&S®ZNAの校正、検証テストの実行などのためにエンジニアが実行する必要のある具体的な手順を紹介します。 このビデオでは、(1) R&S®ZNAを校正する、(2) R&S®ZNAの校正で検証テストを実行する、(3) 被試験デバイス(DUT)でトレーサブルなSパラメータを測定する、(4) Sパラメータとともにトレーサブルな測定の不確かさを含めるために、エンジニアが実行する必要のある具体的な手順を紹介します。 校正, METAS, ZNA, ZNB, ZN-Z270, ZN-Z235, ZN-Z229, ZN-Z224, 不確かさ, トレーサビリティー, トレーサブルなSパラメータ このビデオでは、R&S®ZNAの校正、検証テストの実行などのためにエンジニアが実行する必要のある具体的な手順を紹介します。
振幅/遅延/位相調整された複数の信号の発生 このビデオでは、R&S®SMW200A ベクトル信号発生器のセットアップ方法、およびRF Ports AlignmentオプションSMW-K545とRFPAL PCソフトウェアを組み合わせて使用することによってマルチポートDUTの入力で振幅/遅延/位相調整された複数の信号を発生する方法を紹介します。 このビデオでは、R&S®SMW200A ベクトル信号発生器のセットアップ方法、およびRF Ports AlignmentオプションSMW-K545とRFPAL PCソフトウェアを組み合わせて使用することによってマルチポートDUTの入力で振幅/遅延/位相調整された複数の信号を発生する方法を紹介します。 このビデオでは、測定器の接続から構成/調整プロセスまでの必要な手順について説明します。
ZVR ベクトル・ネットワーク・アナライザによるGSMアンプのSMD ICでのパルスド測定
7月 28, 1998 | AN 番号 1EZ42